직관 · 무엇이 보이나?
인접 spectrum이 높다는 결과는 DUT가 만든 regrowth일 수도, 이미 들어온 floor일 수도 있습니다.
PA compression은 대개 Pout에 따라 adjacent emission이 증가하지만 source ACLR floor와 analyzer overload도 비슷한 모양을 만들 수 있습니다.
- ACLR은 allocated/adjacent channel power ratio, SEM은 frequency-dependent mask와 measurement bandwidth를 사용합니다.
- RB count와 total/RB power mode가 바뀌면 in-channel PSD와 PA drive condition도 바뀝니다.
Diagnostic Fingerprint
ACLR 또는 SEM이 fail한다
정적 evidence matrix · fault simulator 아님
channel poweradjacent-channel spectrumSEM maskCCDF
| 우선 | 가능 stage | 가설 | 가장 빠른 분리 측정 |
|---|---|---|---|
| P1 | source | source ACLR 또는 waveform filtering 문제 | source bypass와 output backoff sweep |
| P1 | pamid | PA spectral regrowth, DPD/CFR 또는 gain mode 문제 | source bypass와 output backoff sweep |
| P2 | analyzer | RBW/filter/integration range 또는 overload | source bypass와 output backoff sweep |
- 즉시 확인
- source bypass ACLR · allocated RB와 measurement bandwidth · Pout/DPD/CFR state
- 관찰 view
- channel power · adjacent-channel spectrum · SEM mask · CCDF
- 분리 증거
- backoff에 따라 인접 누설이 빠르게 줄면 PA 비선형 기여
- 흔한 오진
- total power normalization 변경 · analyzer 내부 attenuation 부족
실무 조작·해석 · 무엇을 바꿀까?
Source bypass, output backoff와 analyzer attenuation 세 축을 확인합니다.
한 축에 반응하는 방식이 stage를 분리하는 증거가 됩니다.
- Source baseline ACLR/SEM → low-power module → target Pout → attenuation/preamp sanity check 순서로 비교합니다.
- Channel BW, RB allocation, filter/integration range와 correction을 result에 저장합니다.
수식·규격 · 어떻게 검증할까?
Uncorrelated leakage contributions는 linear power로 합쳐집니다.
가장 나쁜 source floor가 충분히 낮지 않으면 DUT improvement가 측정되지 않습니다.
P_adj,total ≈ P_adj,source-through + P_adj,PA-generated + P_adj,noise
- dBc ratio를 합칠 때 numerator/denominator reference와 gain을 일치시킵니다.
- Normative limit는 LTE 36.101 또는 NR 38.101-1 적용 condition을 clause별로 확인합니다.
Clause trace
숫자와 구조의 적용 범위
| 근거 | Version · clause | 적용 범위 | 종류 |
|---|---|---|---|
| 3GPP TS 36.101 UE output RF spectrum emissions | 17.6.0 § 6.6 | LTE UE ACLR, SEM and spurious emissions | normative |
| 3GPP TS 38.101-1 FR1 UE output RF spectrum emissions | 17.10.0 § 6.5 | NR FR1 UE ACLR, SEM and spurious emissions | normative |
| Keysight application note Characterizing Key Performance Indicators of Power Amplifiers | 2024 § Measurement concepts | Pout, gain, PAE, EVM, ACLR and compression measurement practice | industry-reference |
학습 확인
결과를 예측하고 stage까지 설명하세요.
Analyzer attenuation을 늘렸더니 ACLR이 크게 좋아지면 우선 확인할 것은?
바뀐 값 → 영향받은 source/DUT/filter/PA stage → 화면 결과 → 한계·오차 순서로 적습니다.
먼저 원리 문제를 맞게 고정하세요.