PA 시험 프로그램은 for power in levels loop가 아니다. Source, bias, DUT temperature, output protection, analyzer range와 trigger가 모두 유효한 상태에서만 한 measurement point를 만들 수 있다. 실패했을 때 어느 state까지 되돌릴지도 정상 sequence만큼 중요하다.
직관 · 무엇이 보이나?
한 측정점을 여러 장비가 함께 만드는 transaction으로 보자
한 점의 gain에는 최소 세 개의 서로 다른 전력이 있다
- MXG setpoint — generator connector에서 목표로 하는 출력
- DUT input power — cable·coupler·attenuator와 mismatch 이후 PA가 실제로 받은 drive
- DUT output power — output path correction 이후 PA output plane의 power
Gain을 계산할 때 MXG setpoint를 그대로 Pin으로 쓰면 input path loss가 gain에 섞인다. Program은 각 값의 reference plane과 correction source를 type과 log에 포함해야 한다.
PA 시험에서 SG가 만드는 값과 다른 장비가 측정하는 값은 어디서 갈릴까?
평균 전력, PAPR, path correction과 uncertainty로 보수적 DUT 입력을 추정하고 guard 적용 허용 한계와 시험 의존 장비를 분리합니다.
교육용 계산 모델 · 실제 장비 정확도나 compliance 판정을 대신하지 않습니다.
- Source파형·전력·할당초기 상태에서 관찰하는 stage
- DUT전달·반사·비선형초기 상태에서 관찰하는 stage
- Acquisitionmixer·IF·ADC초기 상태에서 관찰하는 stage
- DSP / MathRBW·FFT·복소수초기 상태에서 관찰하는 stage
- Displaytrace·marker·grid초기 상태에서 관찰하는 stage
먼저 결과를 예측해보세요
평균 power를 유지한 채 PAPR이 3 dB 늘면 worst-case DUT peak는?
물리 추정 입력이 guard 적용 한계 아래입니다
Guard는 실제 입력 추정치에 더하지 않고, 허용 한계를 낮추는 정책값으로 적용합니다.
물리 입력 추정치와 guard를 적용한 허용 한계를 따로 비교합니다.
- Physical estimate
- PDUT,est = -25.0 + 8.0 + (-3.0) + 0.7 = -19.3 dBm
- Permitted limit
- Ppermit = -10.0 − 2.0 guard = -12.0 dBm
그래프 값을 표로 보기
| 항목 | 값 | 해석 |
|---|---|---|
| SG average | -25.0 dBm | MXG RF connector 기준 평균 전력 |
| Waveform PAPR | 8.0 dB | 평균에서 peak까지의 차이 |
| SG PEP | -17.0 dBm | average + PAPR |
| Signed path gain | -3.0 dB | MXG에서 DUT 입력 기준면까지 |
| Path uncertainty | 0.7 dB | 물리 추정치에 적용하는 최악 방향 오차 |
| DUT physical estimate | -19.3 dBm | PEP + path + uncertainty; guard 제외 |
| DUT maximum | -10.0 dBm | DUT 데이터시트 또는 검증된 한계 |
| Guard margin | 2.0 dB | 허용 한계를 낮추는 운영 정책 |
| Permitted input | -12.0 dBm | DUT maximum − guard |
| Headroom | 7.3 dB | RF enable 조건 통과 |
SG는 stimulus를 만들고 결과는 후속 장비가 측정합니다
측정값의 주인이 누구인지 분리하면 automation interface가 선명해집니다.
| 시험 | SG 역할 | 결과 장비 |
|---|---|---|
| Gain·P1dB·Psat | SG stimulus | Power sensor + SA |
| EVM·ACLR·SEM | OFDM-like IQ | SA / VSA |
| AM-AM·AM-PM | Power sweep | VSA IQ capture |
| PAE | RF input | Power sensor + PSU |
| Stability | Low-power stimulus | NA / VNA |
지금 보이는 변화의 원인
같은 계산 state- 변경
- average -25.0 dBm + PAPR 8.0 dB
- 직접 효과
- SG PEP -17.0 dBm에서 DUT 물리 추정 입력은 -19.3 dBm, guard 적용 허용 한계는 -12.0 dBm입니다.
- 화면 결과
- headroom 7.3 dB로 safety gate가 통과합니다.
- 비용·한계
- SG만으로 Pout·EVM·ACLR·PAE를 얻을 수 없습니다. sensor, SA/VSA와 PSU의 동기화·보정이 필요합니다.
원인을 자기 말로 닫아보세요
바꾼 물리량 → 영향을 받은 stage → 화면에서 바뀐 부분 → 비용·한계 순서로 설명합니다.
먼저 예측을 맞게 고정하세요.
측정 주의 · Software RF OFF는 통신 단절 시 보장되지 않습니다. 실제 bench에는 hardware limit와 interlock가 필요합니다.
정상 경로와 실패 경로를 함께 그린다
Preflight → Safe outputs → Bias ramp → Source configure → RF enable → Settle → Acquire → Validate → Commit → Next point
어느 상태에서도 실패하면:
RF Off → analyzer/source safe range → DUT-specific bias safe-down → error/status capture → session close 또는 controlled recovery
Recovery 후 같은 point를 무조건 반복하지 않는다. 실패 원인이 DUT damage, thermal limit 또는 calibration invalidation일 수 있기 때문이다.
실무 조작·해석 · 무엇을 바꿀까?
PA 개발에 필요한 시험을 공통 orchestration 위에 쌓자
0. Test plan을 장비 command보다 먼저 정의한다
각 시험은 최소한 다음 contract를 가진다.
| 항목 | 예 |
|---|---|
| DUT identity | Serial, revision, fixture, connector torque record |
| Bias | Voltage/current limit, ramp, enable/disable order, settle condition |
| Stimulus | CW/waveform ID, frequency, target Pin, trigger, duration |
| Input plane | Source correction과 검증 sensor 위치 |
| Output plane | Coupler/attenuator/cable correction과 analyzer 위치 |
| Stop condition | Current, temperature, Pout, compression, reflected power limit |
| Measurement | Pin, Pout, phase, current, voltage, EVM, ACLR 등 |
| Cleanup | RF Off, waveform/Mod state, bias safe-down, error collection |
1. Preflight는 RF가 꺼진 상태에서만 통과시킨다
- 모든 장비
*IDN?과 필요한 option을 확인한다. - Calibration artifact의 ID, timestamp, frequency range와 plane을 확인한다.
- MXG RF/Mod/ARB를 Off로 query-back한다.
- Analyzer attenuation, reference level과 maximum safe input을 설정한다.
- Power supply output을 안전 상태로 확인하고 current limit을 설정한다.
- Temperature, interlock, fan/fixture cooling과 emergency stop을 확인한다.
- PA output이 source 쪽으로 돌아갈 가능성과 coupler/isolator 방향을 확인한다.
2. DUT input calibration을 별도 단계로 만든다
PA를 제거하거나 안전한 through/calibration path를 사용해 MXG setpoint와 DUT input plane power의 관계를 측정한다.
- Frequency grid와 낮은 source level을 정한다.
- DUT input plane에 calibrated sensor/receiver를 둔다.
- 각 frequency에서 여러 level을 측정해 linearity를 확인한다.
correction(f, level)과 uncertainty를 저장한다.- Cable을 다시 연결했으면 connector repeatability를 uncertainty에 포함한다.
- Calibration checksum/ID를 test result에 연결한다.
Source correction은 무한정 extrapolate하지 않는다. Frequency, level과 path configuration 범위를 벗어나면 preflight에서 거절한다.
2.5. 저전력 safe bring-up은 모든 recipe의 공통 입구다
- RF Off에서 DUT별 bias sequence를 적용하고 current·temperature가 정상인지 확인한다.
- 충분한 external attenuation을 둔 채 MXG를 최저 검증 drive로 설정한다.
- Frequency·power·RF Off를 query-back하고 analyzer/sensor가 overload되지 않을 range를 확인한다.
- RF On 뒤 DUT plane Pin, Pout, current와 spectrum에 예상하지 않은 oscillation이 없는지 읽는다.
- 한 번에 큰 jump를 하지 않고 승인된 step·dwell로 목표 시험 시작점까지 올린다.
- 첫 point가 불일치하면 correction으로 숨기지 않고 source path, DUT bias와 measurement range를 다시 분리한다.
3. CW small-signal gain과 frequency response
낮은 drive에서 PA가 linear한지 확인한 뒤 frequency를 sweep한다.
for each frequency:
RF OFF
set frequency
set low safe power
query-back + error check
RF ON
wait source/DUT/analyzer settling
measure calibrated Pin and Pout
validate overload/current/temperature
commit gain = Pout - Pin
RF OFFFast sweep가 목적이어도 먼저 stepped, fully-verified baseline을 만든다. List sweep 최적화는 동일한 결과를 내는지 비교한 뒤 적용한다.
4. Gain compression과 P1dB
Frequency를 고정하고 Pin을 작은 step으로 올린다. 각 point에서 linear extrapolation gain과 실제 gain 차이를 계산한다.
- 시작 level은 충분히 linear하고 noise보다 높게 잡는다.
- 큰 step으로 P1dB를 건너뛰지 않도록 coarse→fine search를 사용한다.
- Current, temperature, reflected power와 Pout limit을 각 point에서 검사한다.
- PA가 thermal memory를 보이면 sweep direction·dwell과 cooldown을 기록한다.
- Source·analyzer 자체 compression이 아닌지 through/level audit으로 확인한다.
P1dB 이후 Pout 증가량이 계속 줄어드는 영역에서 Psat를 찾을 수 있지만, “더 이상 늘지 않을 때까지 무조건 밀기”가 recipe가 되어서는 안 된다. DUT absolute maximum, current, temperature, reflected power와 analyzer input 한계 중 하나라도 먼저 도달하면 그 지점이 시험 stop이다.
Source compression과 DUT compression을 분리하는 방법: PA를 제거한 calibrated through path에서 같은 MXG setpoint sweep를 수행해 실제 Pin 증가량을 본다. MXG setpoint는 1 dB 늘었는데 measured Pin이 1 dB 늘지 않으면 DUT가 아니라 source/path가 먼저 비선형이 된 것이다. DUT 시험에서는 ΔPout/ΔPin을 measured plane 값으로 계산한다.
5. Modulated EVM·ACLR·SEM 시험
Golden waveform을 checksum으로 고정하고 다음 값을 함께 저장한다.
waveform ID · sample rate · runtime scaling · RF frequency · target/actual Pin · trigger · analyzer demod configuration · equalization/reference · EVM normalization · ACLR integration bandwidth · SEM mask/version
권장 관찰 순서는 다음과 같다.
- Low drive through path에서 waveform과 analyzer setup의 baseline EVM/ACLR/SEM을 만든다.
- PA low drive에서 linear baseline을 만든다.
- Pin을 올리며 Pout, gain, EVM, ACLR, SEM margin, current와 temperature를 같은 point에 저장한다.
- IQ capture가 가능하면 AM-AM, AM-PM과 spectrum regrowth를 연결한다.
- Waveform 변경 또는 analyzer reconfiguration 뒤에는 새 baseline을 만든다.
EVM, ACLR 또는 SEM margin이 나빠졌다는 이유만으로 PA를 결론 내리지 않는다. MXG clipping/runtime scaling, source modulation quality, analyzer range, reference signal/equalization, mask·bandwidth 설정과 synchronization을 먼저 분리한다.
5.1. DPD 전후와 burst·thermal droop recipe
- DPD A/B: 같은 waveform, sample rate, target Pin, reference plane과 analyzer equalization을 고정한다. DPD coefficient/version과 training capture를 artifact로 저장하고, DPD Off/On의 AM-AM·AM-PM, EVM, ACLR와 PAE를 같은 thermal 상태에서 비교한다.
- Burst droop: Marker/trigger로 burst 시작을 맞추고 envelope power, gain, phase와 supply current를 시간축으로 함께 캡처한다. 첫 symbol과 burst 말단 차이는 PA thermal/electrical memory일 수도 있지만 MXG ALC settling, trigger delay 또는 analyzer time alignment를 먼저 baseline에서 분리한다.
- Duty-cycle sweep: Average input이 같아도 duty cycle이 바뀌면 junction temperature와 supply droop가 달라진다. Pulse width, period, on-time average/peak, cooldown과 fixture temperature를 함께 기록한다.
- Long-run thermal: 반복 waveform이 너무 짧으면 실제 traffic statistics를 대표하지 못할 수 있다. Record length와 repetition 조건을 test contract에 포함하고 온도 안정 전후를 구분한다.
6. 한 point를 commit하는 data shape
from dataclasses import dataclass
@dataclass(frozen=True)
class PaPoint:
frequency_hz: float
target_pin_dbm: float
measured_pin_dbm: float
measured_pout_dbm: float
supply_voltage_v: float
supply_current_a: float
temperature_c: float
evm_percent: float | None
aclr_lower_dbc: float | None
aclr_upper_dbc: float | None
sem_margin_db: float | None
waveform_sha256: str | None
calibration_id: str
valid: bool
invalid_reason: str | None실제 API에서는 단위가 있는 branded type 또는 field name을 유지한다. power=30처럼 reference와 unit가 없는 bare number를 장비 경계로 넘기지 않는다.
7. State-machine skeleton
def run_point(station, request):
station.assert_preflight(request)
station.mxg.output_off()
try:
station.dut.apply_bias(request.bias_policy)
station.mxg.configure_stimulus(request.stimulus)
station.assert_source_state(request.stimulus)
station.mxg.output_on(request.enable_permit)
station.wait_until_settled(request.settling_policy)
raw = station.acquire_all()
station.assert_limits(raw, request.stop_limits)
corrected = station.apply_calibration(raw, request.calibration_id)
return station.validate_and_commit(corrected)
finally:
station.mxg.output_off()
station.dut.safe_down(request.bias_policy)
station.capture_diagnostics()이 skeleton의 finally는 핵심 의도를 보여 주지만 production safety를 완성하지 않는다. Cleanup command별 실패, process kill, network loss와 hardware interlock을 별도 설계해야 한다.
실무 팁
- Source setpoint, query-back, calibrated Pin을 모두 저장하되 서로 덮어쓰지 않는다.
- Measurement point 순서를 randomize할지 결정할 때 thermal drift와 hysteresis를 고려한다.
- Retry는 measurement timeout과 safety-limit violation을 구분한다. Safety violation은 자동 retry하지 않는다.
- Analyzer overload와 under-range를 measurement 값으로 저장하지 않고 invalid reason으로 분리한다.
- 정상 결과만 CSV 한 행으로 남기지 말고 station configuration snapshot과 error/status log를 연결한다.
- Test 종료 뒤 RF Off와 bias safe-down을 다시 query하거나 독립 hardware state로 확인한다.
수식·규격 · 어떻게 검증할까?
Gain·compression·PAE·EVM의 분모와 기준면을 고정하자
수식 열기Power gain
G_P(dB) = P_out,DUT-plane(dBm) − P_in,DUT-plane(dBm)두 power는 같은 waveform condition과 명시된 input/output reference plane에서 측정한다. MXG connector setpoint를 DUT-plane Pin 대신 쓰지 않는다.
수식 열기1 dB compression
G_linear(P_in) − G_actual(P_in) = 1 dBG_linear는 충분히 낮은 drive의 linear fit 또는 baseline gain이다. Noise-dominated point나 이미 compressed된 point로 fit하지 않는다. Interpolation 방식과 power step을 결과와 함께 기록한다.
수식 열기Power-added efficiency
PAE = (P_RF,out − P_RF,in) / P_DC × 100%RF power는 watt로 변환해 빼고, P_DC는 관련 supply rail의 voltage×current를 같은 steady-state 또는 averaging condition에서 합산한다. Pulsed signal은 time alignment와 duty-cycle convention을 명시한다.
수식 열기EVM
EVM_rms = √(Σ|S_meas−S_ref|² / Σ|S_ref|²) × 100%Reference symbol, equalization, timing, carrier recovery, averaging과 normalization이 결과를 바꾼다. Analyzer setup snapshot 없이 EVM 숫자만 비교하지 않는다.
Cause/Effect를 시험 전체로 설명하기
“Target Pin을 1 dB 올리자 MXG source level이 증가했고 DUT-plane calibration으로 실제 Pin을 다시 측정했다. Pout 증가는 1 dB보다 작아져 gain compression이 커졌고, 동시에 current·EVM·ACLR을 같은 point에서 수집했다. Analyzer range와 DUT temperature가 유효한 점만 commit했으며 limit 초과 시 RF Off→DUT-specific bias safe-down 경로로 전이했다.”
이 프로그램이 아직 보장하지 않는 것
- Hardware interlock, fixture arc/over-temperature와 DUT-specific bias safety
- Sensor/analyzer calibration과 전체 uncertainty budget
- Harmonic, pulsed, load-pull 또는 multi-tone 시험의 추가 synchronization
- N5182B와 analyzer의 residual EVM/ACLR가 DUT 요구보다 충분히 좋은지 여부
- Compliance 판정에 필요한 표준별 waveform·filter·limit procedure
따라서 이 장은 production test software의 학습 구조이며 장비 제조사와 DUT safety specification을 대체하지 않는다.
완료 전 자기 설명
- MXG setpoint를 PA Pin으로 바로 쓰면 gain에 어떤 오차가 섞이는가?
- 한 measurement point를 commit하기 전에 어떤 장비 state와 limit을 함께 검증해야 하는가?
- 통신 timeout과 over-current가 각각 발생했을 때 retry·cleanup 정책이 왜 달라야 하는가?
단원을 닫기 전에
같은 조건으로 설명하고 재현할 수 있나요?
완료 기준
- PA 시험을 preflight→safe→bias→source→settle→acquire→validate→cleanup 상태기계로 설명할 수 있다.
- Generator setpoint와 calibrated DUT input power를 분리해 gain·compression·PAE 계산에 올바른 값을 사용할 수 있다.
- 저전력 bring-up, CW gain/P1dB·Psat, frequency sweep, burst·DPD와 modulated EVM/ACLR/SEM 시험의 장비 state·측정값·실패 복구를 설계할 수 있다.
대표 bench
- Source
- Keysight N5182B MXG의 calibrated CW 또는 verified ARB waveform
- DUT
- Bias·thermal·input/output protection이 정의된 connectorized PA module
- Analyzer
- Power sensor/X-Series/89600 VSA와 programmable power supply, coupler·attenuator 포함
근거와 더 읽을 자료
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