직관 · 무엇이 보이나?
원하는 경로의 손실과 원하지 않는 경로의 차단을 동시에 설계합니다.
Filter/duplexer/switch는 passband를 전달하면서 stopband, RX band와 inactive port로의 leakage를 줄입니다.
- 낮은 insertion loss만 최적화하면 isolation·matching·linearity와 tradeoff가 생길 수 있습니다.
- Band edge의 ripple과 group delay는 gain flatness뿐 아니라 wideband waveform EVM에도 영향을 줄 수 있습니다.
실무 조작·해석 · 무엇을 바꿀까?
Passive S-parameter와 active RF 결과를 같은 plane에서 겹칩니다.
VNA sweep와 PA gain/ACLR/EVM sweep의 frequency pattern을 비교합니다.
- Selected path S21/S11과 inactive/RX port isolation을 low-power에서 먼저 측정합니다.
- High-power에서 passive component heating/nonlinearity가 의심되면 power level과 duty를 기록해 small-signal VNA 결과와 구분합니다.
수식·규격 · 어떻게 검증할까?
S21의 loss와 isolation의 port pair를 명시합니다.
수동 reciprocal path라도 switch state와 duplexer port에 따라 측정 pair가 달라집니다.
Insertion loss = −20log10|S_through| ; Isolation = −20log10|S_leak|
- Mismatch가 있으면 단순 S21 loss와 transducer power loss가 완전히 같지 않을 수 있습니다.
- Directivity, fixture leakage와 VNA dynamic range가 높은 isolation 측정의 바닥을 제한합니다.
Clause trace
숫자와 구조의 적용 범위
| 근거 | Version · clause | 적용 범위 | 종류 |
|---|---|---|---|
| Keysight application note Characterizing Key Performance Indicators of Power Amplifiers | 2024 § Measurement concepts | Pout, gain, PAE, EVM, ACLR and compression measurement practice | industry-reference |
학습 확인
결과를 예측하고 stage까지 설명하세요.
Band-edge에서 active gain과 passive S21이 같은 모양으로 내려가면 우선 의심할 것은?
바뀐 값 → 영향받은 source/DUT/filter/PA stage → 화면 결과 → 한계·오차 순서로 적습니다.
먼저 원리 문제를 맞게 고정하세요.